[发明专利]一种芯片验证方法和装置在审
| 申请号： | 201880099920.X | 申请日： | 2018-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN113168364A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 杨鸿志 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄冠雄 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供一种芯片验证方法和装置，用以解决现有技术中存在的验证芯片是否存在bug时，需要人员参与，操作繁琐，验证效率低的问题。方式一，基于确定的随机数值选择对应的指令序列，再重复执行符合条件的步骤；方式二，确定一个控制参数后，根据基于一个未使用过的随机数值选择指令序列和确定的控制参数生成实际指令用例后，重复执行符合条件的步骤。从而在芯片验证过程中，不需要人员参与，操作简单，可以提高验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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