[发明专利]磁性粒子成像系统的校准方法在审
| 申请号： | 201880094384.4 | 申请日： | 2018-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN112400115A | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 肯·巴里斯·托;塞尔哈特·伊尔贝伊;阿尔珀·贡戈;侯赛因·埃姆雷·古文;图勒加·丘库尔;埃米内·乌尔库·萨丽塔斯·丘库尔 | 申请（专利权）人： | 阿塞尔桑电子工业及贸易股份公司;伊赫桑·杜格拉纳西·比尔肯特大学 |
| 主分类号： | G01R33/00 | 分类号： | G01R33/00;A61B5/0515;G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 王宏伟;陈小钰 |
| 地址： | 土耳其*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种校准由磁场发生器和测量装置组成的磁性粒子成像系统的方法，其提出了一种编码校准场景，该编码校准场景包含分布在其体积内的多个纳米粒子样品，该编码校准场景大于该场景所在的视场。在视场上，向一个或多个方向上线性移动和/或在一个或多个轴上旋转该场景，并且进一步地，本发明也公开了一种用于移动编码校准场景的机械系统。 | ||
| 搜索关键词： | 磁性 粒子 成像 系统 校准 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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