[发明专利]单光子雪崩二极管和用于操作单光子雪崩二极管的方法有效
申请号: | 201880042775.1 | 申请日: | 2018-06-26 |
公开(公告)号: | CN111684610B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 丹尼尔·范·纽文霍夫;沃德·范·德·坦佩;马尔滕·奎克;哥宾纳·叶加纳森 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | H01L31/107 | 分类号: | H01L31/107;H01L31/02;H01L31/0224;H01L31/0352;H01L27/144 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开涉及单光子雪崩二极管(SPAD)检测器,包括:半导体衬底(1),其具有体区域(10);在半导体衬底的体区域处的至少一个SPAD(2),SPAD具有倍增结区域(20);以及操作电路(3),被配置为生成用于将光生载流子从半导体衬底的体区域传输到SPAD的倍增结区域的电传输场。本公开还涉及用于操作SPAD的方法。 | ||
搜索关键词: | 光子 雪崩 二极管 用于 操作 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的