[发明专利]成像装置和电子设备在审
| 申请号： | 201880040564.4 | 申请日： | 2018-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN110770906A | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 高桥圭一郎;小林一仁;锦织克美;田中翔悠 | 申请（专利权）人： | 索尼半导体解决方案公司 |
| 主分类号： | H01L27/146 | 分类号： | H01L27/146 |
| 代理公司： | 11290 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 梁兴龙;曹正建 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的成像装置包括：包括多个像素组的像素阵列单元，所述多个像素组中的每个像素组是i)仅包括普通像素的普通像素组或ii)包括至少一个普通像素和至少一个相位差检测像素的混合像素组中的一种，其中所述像素阵列单元包括至少一个普通像素组和至少一个混合像素组。对于每个普通像素组，所述普通像素接收透过同色的滤色器的光。对于每个混合像素组，所述至少一个相位差检测像素与至少一个其他相位差检测像素共享片上透镜，并接收透过与所述至少一个其他相位差检测像素同色的滤色器的光。 | ||
| 搜索关键词： | 像素组 像素 相位差检测 混合像素 像素阵列单元 滤色器 同色 成像装置 片上透镜 像素共享 像素接收 | ||
【主权项】：
1.一种成像装置，包括：/n包括多个像素组的像素阵列单元，所述多个像素组中的每个像素组是i)仅包括普通像素的普通像素组或ii)包括至少一个普通像素和至少一个相位差检测像素的混合像素组中的一种，其中/n对于每个普通像素组，所述普通像素接收透过同色的滤色器的光，和/n对于每个混合像素组，所述至少一个相位差检测像素与至少一个其他相位差检测像素共享片上透镜，并接收透过与所述至少一个其他相位差检测像素同色的滤色器的光。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼半导体解决方案公司，未经索尼半导体解决方案公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880040564.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的；包括有热磁组件的
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的；包括有热磁组件的
