[发明专利]X射线暗场成像中的射束硬化校正有效
| 申请号： | 201880033090.0 | 申请日： | 2018-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN110636796B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | A·亚罗申科;H-I·马克;T·克勒;F·德马尔科;L·B·格罗曼;K·维勒;P·诺埃尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01V5/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 孟杰雄 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及包括第一材料和第二材料的对象的X射线暗场成像中的射束硬化校正，第一和第二材料具有不同的射束硬化性质。由于X射线成像数据包括关于成像对象的内部结构的信息，因此这样的信息可以连同适当的校准数据一起用于识别在对象的成像区中发生的射束硬化贡献，从而允许对由于X射线暗场成像中的射束硬化的伪影的校正。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 暗场 成像 中的 硬化 校正 | ||
【主权项】：
1.一种用于获得射束硬化图的方法，所述射束硬化图被用在对至少包括第一材料和第二材料的对象的X射线暗场成像中的射束硬化校正中，所述第一材料和所述第二材料具有不同的射束硬化性质，所述方法包括：/n采集所述对象的X射线成像数据的采集步骤(16、36、38)，/n获得关于所述第一材料对所采集的X射线成像数据的贡献的信息的获得步骤(20、42)，以及/n使用所采集的X射线成像数据提供射束硬化图作为输入以用于所述X射线暗场成像中的所述射束硬化校正的图提供步骤(24、44)，其中，所述射束硬化图基于所获得的信息。/n
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