[发明专利]离子阱装置有效

专利信息
申请号: 201880016430.9 申请日: 2018-03-01
公开(公告)号: CN110383418B 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 狭间一 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 将离子阱装置设为具备:离子阱(2),其具有多个电极;矩形波电压产生部(4),其包括用于产生直流电压的电压源(41、42)以及开关部(43、44),通过用开关部(43、44)对由电压源(41、42)产生的直流电压进行开关动作来生成矩形波电压,并对所述多个电极中的至少一个电极施加该矩形波电压;以及开关部调温单元(9、93、94、95),其对开关部(43、44)进行调温,使得开关部(43、44)的温度维持目标温度,该目标温度是比离子阱(2)进行动作时的开关部(43、44)的最高达到温度高且比开关部(43、44)的可动作温度的上限低的温度。由此,能够不受离子排出的时间漂移的影响、不受由分析条件的不同造成的影响地进行高精度的质量测定。
搜索关键词: 离子 装置
【主权项】:
1.一种离子阱装置,其特征在于,具有:a)离子阱,其具有多个电极;b)矩形波电压产生部,其包括开关部和用于产生直流电压的电压源,通过用所述开关部对由所述电压源产生的直流电压进行开关动作来生成矩形波电压,并对所述多个电极中的至少一个电极施加该矩形波电压;以及c)开关部调温单元,其对所述开关部进行调温,使得该开关部的温度维持目标温度,该目标温度是比所述离子阱进行动作时的该开关部的最高达到温度高且比该开关部的可动作温度的上限低的温度。
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