[发明专利]应用于测距装置的反射率校正方法、测距装置在审
| 申请号： | 201880014852.2 | 申请日： | 2018-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN111587383A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 陈涵;张富;洪小平 | 申请（专利权）人： | 深圳市大疆创新科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10;G01S7/497 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 鄢功军 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种应用于测距装置的反射率校正方法、测距装置。一种应用于测距装置的反射率校正方法包括：获取包含当前探测点的实时点云队列；所述当前探测点的数据中包括初始反射率；根据所述实时点云队列获取所述当前探测点的入射角；根据所述入射角校正所述初始反射率，得到所述当前探测点校正后的反射率。本实施例通过对探测点的反射率进行校正，有利于提高后续计算结果的准确度，尤其是车载应用场景，可以减少事故的发生。并且，本实施例中实时点云队列的探测点数量相对较少，可以降低校正过程所需要的存储空间和计算资源，降低校正过程的时延，尤其适用于在线校正的应用场景。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 测距 装置 反射率 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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