[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201880014466.3 | 申请日: | 2018-02-15 |
公开(公告)号: | CN110366683B | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
发明(设计)人: | 薮谷千枝;山田巧;饭岛昌彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 万捷;宋俊寅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了一种自动分析装置,包括:对收纳检体的检体容器进行保持的样本盘、对收纳试剂的试剂容器进行保持的试剂盘、分别进行不同种类的分析的至少2个以上不同的测定单元、以及对所述测定单元进行控制的控制部,该自动分析装置的特征在于,包括显示部,该显示部对表示该2个以上的测定单元的操作的流程的作业流程区域以及显示各测定单元的可否使用状况的概览区域进行显示,所述概览区域具有能够对是否使用所述各测定单元进行选择的是否使用单元选择部,所述控制部基于所述是否使用单元选择部中设定的信息,对所述显示部进行控制以使得变更所述作业流程区域的显示。该自动分析装置在某个测定单元发生异常时,仍能使可动作的其它测定单元工作。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
1.一种自动分析装置,包括:样本盘,该样本盘对收纳检体的检体容器进行保持;试剂盘,所述试剂盘对收纳试剂的试剂容器进行保持;至少2个以上的不同的测定单元,该至少2个以上的不同的测定单元分别进行不同种类的分析;以及控制部,该控制部控制所述测定单元,该自动分析装置的特征在于,包括显示部,该显示部对表示该2个以上的测定单元的操作的流程的作业流程区域、以及显示各测定单元的可否使用状况的概览区域进行显示,所述概览区域具有是否使用单元选择部,所述是否使用单元选择部能够对是否使用所述各测定单元进行选择,所述控制部基于所述是否使用单元选择部中设定的信息,对所述显示部进行控制以使得变更所述作业流程区域的显示。
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