[发明专利]能量鉴别光子计数检测器及其用途有效
| 申请号： | 201880013363.5 | 申请日： | 2018-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN110678125B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 金燕南;彼得·迈克尔·伊迪克;芮雪;付赓 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00;G01T1/36;G06T11/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 侯颖媖;钱慰民 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本方法涉及基于硅的能量鉴别光子计数检测器的用途，诸如用于包括计算机断层摄影的基于X射线的成像。所描述的方法解决了受康普顿散射影响的X射线光子的分辨和分类，所述X射线光子可以被检测为由于碰撞或偏转事件而具有低于其本身级别的能级。 | ||
| 搜索关键词： | 能量 鉴别 光子 计数 检测器 及其 用途 | ||
【主权项】：
1.一种基于X射线的成像系统，包括：/nX射线源，所述X射线源被配置为以一个或多个能谱发射X射线；/nX射线检测器，所述X射线检测器包括基于硅的直接转换材料，其中所述X射线检测器被配置为在操作期间响应于所传输的X射线而生成信号，并且其中所述信号对应于在每个暴露间隔内在不同能级下观察到的光子计数；和/n处理部件，所述处理部件被配置为接收来自所述X射线检测器的所述信号并且基于所观察到的能级将至少一个相应能谱的光子计数数据合并到以下中的一者：/n主要高能量仓，所述主要高能量仓高于第一阈值；/n低能量仓，所述低能量仓介于第二阈值与所述第一阈值之间；和/n次级高能量仓，所述次级高能量仓高于丢弃阈值并且低于所述第二阈值；/n其中所述处理部件被进一步配置为使用针对所述主要高能量仓和所述次级高能量仓导出的高能量光子计数以及使用所述低能量仓中的所述低能量光子计数来生成一个或多个图像。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司，未经通用电气公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201880013363.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：断层图像生成方法和放射线摄影装置
- 下一篇：触觉反馈和接触系统
