[发明专利]在激光材料加工时监测激光加工头中的射束引导光学器件的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201880013356.5 申请日: 2018-12-11
公开(公告)号: CN110325319B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: D·布拉斯奎兹-桑切斯;N·韦肯曼 申请(专利权)人: 普雷茨特两合公司
主分类号: B23K26/70 分类号: B23K26/70;B23K26/046
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 郭毅
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于在激光材料加工时监测激光加工头(10)中的射束引导光学器件的方法和设备,在激光材料加工时测量射束引导光学器件的至少一个光学元件(16,18,26)的物理参数,物理参数与至少一个光学元件的污染程度相关;借助空间分辨传感器(36)检测焦点位置用于焦点位置调节,空间分辨传感器测量焦点(20)的区域中的射束直径;分析处理电路(48)由空间分辨传感器(36)的输出信号确定当前焦点位置并且输出用于调节驱动装置的调节信号,调节驱动装置为了焦点位置调节使射束引导光学器件的至少一个光学元件(16;18;26)移位,只要射束引导光学器件的至少一个光学元件(16,18,26)的物理参数的测量值还未达到所配属的临界值,就一直补偿测量的焦点位置变化,当射束引导光学器件的至少一个光学元件(16;18;26)的物理参数的测量值达到所配属的临界值时,输出错误信号。
搜索关键词: 激光 材料 工时 监测 工头 中的 引导 光学 器件 方法 设备
【主权项】:
1.一种用于在激光材料加工时监测激光加工头(10)中的射束引导光学器件的方法,其中,‑在所述激光材料加工期间测量所述射束引导光学器件的至少一个光学元件(16,18,26)的物理参数,所述物理参数与所述至少一个光学元件的污染程度相关;‑检测焦点位置用以进行焦点位置调节;‑只要所述射束引导光学器件的至少一个光学元件(16,18,26)的物理参数的测量值还未达到配属的临界值,就一直对测量到的焦点位置变化进行补偿;并且‑当所述射束引导光学器件的至少一个光学元件(16;18;26)的所测量到的参数值达到所配属的临界值时,输出错误信号。
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