[发明专利]增材制造的零件及相关方法在审
| 申请号： | 201880006490.2 | 申请日： | 2018-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN110192107A | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | B·H·博迪利;J·弗里安特;G·萨托;G·A·沙佩 | 申请（专利权）人： | 奥科宁克公司 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/11 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 苏娟 |
| 地址： | 美国宾夕*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在一些实施方案中，一种涉及检查增材制造的零件的非破坏性方法的示例性方法包括：增材制造金属零件，所述金属零件被配置成具有增材制造晶粒结构，所述增材制造晶粒结构指示用于构造所述金属零件的增材工艺的类型，其中所述晶粒结构被配置成当通过超声检查来评估时具有第一超声信号衰减水平；在所述金属零件上赋予一定量的应变，以将具有第一超声信号衰减水平的所述增材制造晶粒结构转变成具有第二超声信号衰减水平的晶粒结构，其中所述第二超声信号衰减水平低于所述第一超声信号衰减水平；以及通过非破坏性测试评估方法来检查所述金属零件，以确认所述金属零件是否通过零件构建规范。 | ||
| 搜索关键词： | 金属零件 超声信号 晶粒结构 衰减水平 制造 非破坏性测试 超声检查 非破坏性 构建 评估 配置 检查 赋予 | ||
【主权项】：
1.一种方法，所述方法包括：增材制造金属零件，所述金属零件被配置成具有第一晶粒结构，当通过超声检查来评估时，所述第一晶粒结构具有第一量的内部噪声和第一量的后壁信号衰减；在所述金属零件上赋予一定量的应变以将所述第一晶粒结构转变成具有第二量的内部噪声和第二量的后壁信号衰减的第二晶粒结构，其中所述第一量的内部噪声大于所述第二量的内部噪声；进一步地其中，所述第一量的后壁信号衰减大于所述第二量的后壁信号衰减；以及超声检查所述金属零件以获得结果，其中所述赋予步骤将所述金属零件配置成具有第二晶粒结构，所述第二晶粒结构由于所述第二量的内部噪声和第二量的后壁信号衰减而被配置用于超声评估。
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