[发明专利]三维存储器件的嵌入式焊盘结构及其制造方法有效
申请号: | 201880001682.4 | 申请日: | 2018-08-16 |
公开(公告)号: | CN109155320B | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 陈俊;夏志良;肖莉红 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 钟胜光 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本文公开了3D存储器件及其制造方法的实施例。所述器件包括阵列器件半导体结构,阵列器件半导体结构包括:设置于交替导体/电介质堆叠层上并包括第一互连结构的阵列互连层。所述器件还包括外围器件半导体结构,外围器件半导体结构包括设置于外围器件上并包括第二互连结构的外围互连层。所述器件还包括嵌入阵列器件半导体结构或外围互连层中的焊盘以及暴露焊盘的表面的焊盘开口。阵列互连层与外围互连层键合,并且焊盘通过第一互连结构或第二互连结构与外围器件电连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体结构 互连层 互连结构 外围器件 阵列器件 焊盘 外围 三维存储器件 电介质堆叠 导体 存储器件 焊盘结构 焊盘开口 电连接 嵌入式 键合 嵌入 制造 暴露 | ||
【主权项】:
1.一种3D存储器件,包括:阵列器件半导体结构,包括:设置于半导体层上的交替导体/电介质堆叠层,以及设置于所述交替导体/电介质堆叠层上并包括至少一个第一互连结构的阵列互连层;外围器件半导体结构,包括:设置于衬底上的至少一个外围器件,以及设置于所述至少一个外围器件上并包括至少一个第二互连结构的外围互连层;嵌入所述阵列器件半导体结构或所述外围互连层中的至少一个焊盘;以及暴露所述至少一个焊盘的表面的焊盘开口;其中,所述阵列互连层与所述外围互连层键合,并且所述至少一个焊盘通过所述至少一个第一互连结构或所述至少一个第二互连结构与所述至少一个外围器件电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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