[外观设计]电气特性测定用探头有效

专利信息
申请号: 201830647559.2 申请日: 2018-11-15
公开(公告)号: CN305194366S 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 戒田理夫;游辉哲 申请(专利权)人: 日本电产理徳股份有限公司;美亚科技股份有限公司
主分类号: 10-05 分类号: 10-05
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 牛玉婷
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 1.本外观设计产品的名称:电气特性测定用探头。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于半导体晶片、芯片、封装、元件等的检查和电路布线的电气特性测定。3.本外观设计产品的设计要点:各视图所示的形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。5.使用状态参考图中,数字1~5分别表示检查装置、本产品、检查台、检查对象物、检查工具。
搜索关键词: 外观设计 电气特性测定 探头 半导体晶片 检查对象物 电路布线 检查工具 检查装置 检查台 封装 芯片 检查 图片
【主权项】:
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