[外观设计]数字测试装置（7000F）有效
| 申请号： | 201830169457.4 | 申请日： | 2018-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN304918230S | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 赵坤岭;李全任 | 申请（专利权）人： | 上海宏测半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | 10-05 | 分类号： | 10-05 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 200001 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 1．本外观设计产品的名称：数字测试装置（7000F）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测试各类数字集成电路的功能、直流参数、管脚特性和交流参数，适合芯片设计公司进行设计验证或封测工厂进行大批量晶圆或成品测试。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品的整体形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。 | ||
| 搜索关键词： | 外观设计 数字测试装置 数字集成电路 成品测试 交流参数 设计验证 芯片设计 整体形状 直流参数 管脚 晶圆 测试 图片 | ||
【主权项】：
暂无信息
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