[实用新型]一种电路板测试装置有效

专利信息
申请号: 201822180365.3 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN209707540U 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 朱晓刚 申请(专利权)人: 苏州德晓电子科技有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R31/28
代理公司: 44202 广州三环专利商标代理有限公司 代理人: 郝传鑫;贾允<国际申请>=<国际公布>=
地址: 215129 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种电路板测试装置,包括第一测试件和第二测试件,第一测试件包括测试板和支架,测试板与所述支架滑动连接,测试板上设置有多个测试针,多个测试针与待测电路板上的测试点一一对应;第二测试件包括控制台、操作台和配电箱,控制台上设置有开关,开关与配电箱电性连接;操作台位于配电箱上方,操作台上设置有多个限位件和定位件,定位件用于托载待测电路板,限位件位于定位件的外侧,限位件用于限制待测电路板在定位件上下移动;本实用新型的一种电路板测试装置,设置有限位件,所述限位件可以限制测试板与操作台之间的距离,避免由于设置或者操作不当而压坏电路板,降低不必要的损失,这样在一定程度上也提高了产品的良率。
搜索关键词: 测试板 测试件 定位件 限位件 操作台 待测电路板 配电箱 电路板测试装置 本实用新型 测试针 支架 电路板 控制台 电性连接 滑动连接 上下移动 测试点 良率 位件 压坏
【主权项】:
1.一种电路板测试装置,其特征在于,包括第一测试件和第二测试件,所述第一测试件包括测试板(2)和支架(4),所述测试板(2)与所述支架(4)滑动连接,所述测试板(2)上设置有多个测试针(21),所述多个测试针(21)与待测电路板上的测试点一一对应;/n所述第二测试件包括控制台(1)、操作台(3)和配电箱(5),所述控制台(1)上设置有开关(11),所述开关(11)与所述配电箱(5)电性连接;/n所述操作台(3)上设置有二氧化锡玻璃,所述二氧化锡玻璃上设置有槽;/n所述操作台(3)位于所述配电箱(5)上方,所述操作台(3)上设置有多个限位件(31)和定位件(32),所述限位件(31)和所述定位件(32)能够穿过所述槽;所述定位件(32)用于托载所述待测电路板,所述限位件(31)位于所述定位件(32)的外侧,所述限位件(31)用于限制所述待测电路板在所述定位件(32)上下移动。/n
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