[实用新型]一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置

摘要

本实用新型公开一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，包括主腔体、微波加热构件、X射线发生器、探测器、样品槽、探测器圆盘、底盘、X射线发生器圆盘、试样台、X射线发生器支撑杆、探测器支撑杆、卡环、滑槽、X射线发生器驱动电机、探测器驱动电机；本实用新型主要用于分析微波加热过程中的物料成分及其物相变化，通过调节X射线发生器和探测器角度来获取不同的散射粒子及其能谱，通过能谱分析，用以分析物料成分，探测器采集分析二次粒子，能够得到关于物料在微波连续加热状态下的物相变化过程。

主权项

1.一种基于X射线荧光的微波加热过程物料分析装置，其特征在于，包括主腔体（1）、微波加热构件（2）、X射线发生器（3）、探测器（4）、样品槽（5）、探测器圆盘（6）、底盘（7）、X射线发生器圆盘（8）、试样台（9）、X射线发生器支撑杆（10）、探测器支撑杆（11）、卡环（12）、滑槽（13）、X射线发生器驱动电机（14）、探测器驱动电机（15），主腔体（1）一端设有试样台（9），试样台（9）上开槽，样品槽（5）设置在槽里，样品槽（5）底部设有微波加热构件（2），微波加热构件（2）位于主腔体（1）内部；主腔体（1）另一端设置在底盘（7）上，主腔体（1）上设有卡环（12），卡环（12）与主腔体（1）之间为螺纹连接，底盘（7）上开有环形滑槽（13），环形滑槽（13）横向深入底盘（7）内部，环形滑槽（13）下面开有半圆弧形通孔，X射线发生器（3）设置在X射线发生器支撑杆（10）上，X射线发生器支撑杆（10）另一端穿过底盘（7）上的半圆弧形通孔后与X射线发生器驱动电机（14）连接，X射线发生器支撑杆（10）上设有X射线发生器圆盘（8），X射线发生器圆盘（8）设置在环形滑槽（13）内并沿环形滑槽（13）滑动；探测器（4）设置在探测器支撑杆（11）上，探测器支撑杆（11）另一端穿过底盘（7）上的半圆弧形通孔后与探测器驱动电机（15）连接，探测器支撑杆（11）上设有探测器圆盘（6），探测器圆盘（6）设置在环形滑槽（13）内并沿环形滑槽（13）滑动；X射线发生器（3）、探测器（4）与样品槽（5）内部相对。