[实用新型]一种电源模块的并行测试装置有效

专利信息
申请号: 201822001504.1 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN209590242U 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 梅亮;乔秀铭;闫兴亮;吕乐;刘敦伟 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G01R31/40 分类号: G01R31/40
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 李莎;李弘
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种电源模块的并行测试装置,涉及芯片测试装置领域,包括夹持机构、第一检测机构和第二检测机构,所述夹持机构用于放置待检测的芯片并夹持住芯片的引脚,所述第一检测机构和第二检测机构用于对芯片进行检测,第一检测机构和第二检测机构之间相互并联设置,第一检测机构和第二检测机构均电性连接夹持机构,夹持机构、第一检测机构和第二检测机构对应设置且数量彼此相等,本实用新型可以同时对多个芯片进行测试,具有两套独立的测试系统,双重选择,测试多样化,装置易安装,测试效率高。
搜索关键词: 夹持机构 芯片 并行测试装置 本实用新型 电源模块 芯片测试装置 测试 并联设置 测试系统 测试效率 电性连接 双重选择 易安装 检测 夹持 两套 引脚 相等
【主权项】:
1.一种电源模块的并行测试装置,其特征在于,包括夹持机构、第一检测机构和第二检测机构;所述夹持机构为集成电路插座(1),用于放置待检测的芯片并夹持住芯片的引脚;所述第一检测机构为检测端子(2),所述第二检测机构包括输入功率连接端子、输出功率连接端子和电连接器(3),所述集成电路插座(1)电性连接输入功率连接端子、输出功率连接端子、电连接器(3)和检测端子(2),第一检测机构和第二检测机构用于对芯片进行检测,第一检测机构和第二检测机构之间相互并联设置,第一检测机构和第二检测机构均电性连接夹持机构,夹持机构、第一检测机构和第二检测机构对应设置且数量彼此相等。
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