[实用新型]一种多枚内存条并行应用性能测试装置有效
| 申请号： | 201821751407.8 | 申请日： | 2018-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN209118772U | 公开（公告）日： | 2019-07-16 |
| 发明（设计）人： | 包增利 | 申请（专利权）人： | 海太半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人： | 赵华 |
| 地址： | 214000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种多枚内存条并行应用性能测试装置，包括主板、中央处理器、供电电源、存储数据单元、结构支架和固定内存治具，结构支架上水平设置有主板，对应主板上的内存条卡槽在主板上安装有固定内存治具，主板的一侧连接在安装在结构支架上的供电电源上，主板上安装有中央处理器并与内存条卡槽电连接，主板上安装的存储数据单元与内存条卡槽电连接，主板与测试架构单元和数据交汇单元进行数据交互。本实用新型实现一台功能性测试设备一次测试多枚内存，达到相同的设备测试更多的产品，提高人员效率，减少空间及搬运浪费，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 主板 内存条 结构支架 卡槽 存储数据单元 性能测试装置 本实用新型 中央处理器 并行应用 供电电源 固定内存 电连接 治具 功能性测试 测试架构 设备测试 生产效率 数据交互 水平设置 内存 搬运 交汇 测试 | ||
【主权项】：
1.一种多枚内存条并行应用性能测试装置，其特征在于，包括主板(1)、中央处理器(2)、供电电源(3)、存储数据单元(4)、结构支架和固定内存治具(6)，所述结构支架上水平设置有主板(1)，对应所述主板(1)上的内存条卡槽(5)在主板(1)上安装有固定内存治具(6)，所述主板(1)的一侧连接在安装在结构支架上的供电电源(3)上，所述主板(1)上安装有中央处理器(2)并与内存条卡槽(5)电连接，所述主板(1)上安装的存储数据单元(4)与内存条卡槽(5)电连接，所述主板(1)与测试架构单元和数据交汇单元进行数据交互。
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