[实用新型]一种同时对多个MOS管进行配对的检测系统有效
| 申请号： | 201821655140.2 | 申请日： | 2018-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN209167475U | 公开（公告）日： | 2019-07-26 |
| 发明（设计）人： | 李有财;刘震;汤平;邓秉杰;谢威斌;陈言祥 | 申请（专利权）人： | 福建星云电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 宋连梅 |
| 地址： | 350000 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种同时对多个MOS管进行配对的检测系统，包括上位机、MCU控制模块、ADC模块、DAC模块、电流采样模块、电压采样模块、恒压源控制模块以及恒流源控制模块；所述电流采样模块和电压采样模块均与所述ADC模块相连接；所述恒压源控制模块和恒流源控制模块均与所述DAC模块相连接；所述ADC模块和DAC模块均与所述MCU控制模块相连接；所述MCU控制模块与所述上位机相连接。本实用新型优点在于：测试速度快，测试效率高；可及时发出告警；可确保待测试MOS管在测试的过程中不会被击穿；测试后可获取到的信息量多。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 恒流源控制模块 电流采样模块 电压采样模块 本实用新型 检测系统 控制模块 恒压源 上位机 配对 告警 测试效率 击穿 信息量 | ||
【主权项】：
1.一种同时对多个MOS管进行配对的检测系统，其特征在于：包括一上位机、一MCU控制模块、一ADC模块、一DAC模块、一电流采样模块、一电压采样模块、一恒压源控制模块以及一恒流源控制模块；所述电流采样模块和电压采样模块均与所述ADC模块相连接；所述恒压源控制模块和恒流源控制模块均与所述DAC模块相连接；所述ADC模块和DAC模块均与所述MCU控制模块相连接；所述MCU控制模块与所述上位机相连接；所述电流采样模块设有复数个电流采样通道，所述电压采样模块设有复数个电压采样通道；所述恒压源控制模块设有复数个电压设定通道，所述恒流源控制模块设有复数个电流限定通道。
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