[实用新型]干涉仪测试工装有效
| 申请号： | 201821640316.7 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN208724001U | 公开（公告）日： | 2019-04-09 |
| 发明（设计）人： | 朱成硕 | 申请（专利权）人： | 上海乾曜光学科技有限公司 |
| 主分类号： | H04M1/24 | 分类号： | H04M1/24 |
| 代理公司： | 上海助之鑫知识产权代理有限公司 31328 | 代理人： | 王风平 |
| 地址： | 201806 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种干涉仪测试工装，包括：底板，第一滑动板，第一锁紧螺母，第一定位柱，第二滑动板，第二锁紧螺母，第二定位柱。根据本实用新型的干涉仪测试工装，用于测量手机摄像孔的光学性能。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉仪测试 工装 本实用新型 锁紧螺母 滑动板 底板 第二定位柱 第一定位柱 测量手机 光学性能 摄像孔 | ||
【主权项】：
1.一种干涉仪测试工装，其特征在于，包括：底板，所述底板的上表面上具有中心通孔、位于所述中心通孔前面的纵向滑槽、位于所述中心通孔前面且位于所述纵向滑槽左侧的第一螺纹通孔、位于所述中心通孔后面的横向滑槽、位于所述横向滑槽后面的第二螺纹通孔；第一滑动板，所述第一滑动板可前后移动地设在所述底板上，所述第一滑动板上具有与所述纵向滑槽相适配的第一通孔、与所述第一螺纹通孔相适配且与所述纵向滑槽平行的第一长圆孔；第一锁紧螺母，所述第一锁紧螺母的下端向下穿过所述第一长圆孔并与所述第一螺纹通孔相配合；第一定位柱，所述第一定位柱的下端向下穿过所述第一通孔并与所述纵向滑槽相配合；第二滑动板，所述第二滑动板可左右移动地设在所述底板上，所述第二滑动板上具有与所述横向滑槽相适配的第二通孔、与所述第二螺纹通孔相适配且与所述横向滑槽平行的第二长圆孔；第二锁紧螺母，所述第二锁紧螺母的下端向下穿过所述第二长圆孔并与所述第二螺纹通孔相配合；第二定位柱，所述第二定位柱的下端向下穿过所述第二通孔并与所述横向滑槽相配合。
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