[实用新型]一种数据自动保存的芯片测试电路及测试系统

摘要

本实用新型属于半导体芯片自动测试系统之测试、结果数据的自动保存技术领域，具体涉及一种数据自动保存的芯片测试电路及测试系统。本专利的有益效果是：采用单片机ATmega32、光耦合器、电阻、发光二极管等少许元器件构成，以提取测试探针的信号灯逻辑信号，从光耦隔离后送入计算机，根据逻辑信号的时序，用C语言编写软件，当信号灯GREEN(绿)灯亮时，进行正常测试，当测试系统完成一片所有的管芯测试时，绿灯熄灭，RED(红)灯亮，电路装置发出中断信号，计算机自动保存整晶圆片管芯的测试数据。既消除了人工操作的失误几率，也大大提高了生产效率。

主权项

1.一种数据自动保存的芯片测试电路，其特征在于：包括红存储指示灯端子Port＿RED、绿存储指示灯端子Port＿GREEN、测试完成端子waferend以及单片机U1，红存储指示灯端子Port＿RED与绿存储指示灯端子Port＿GREEN分别经过电阻R2、R4连接光耦合器U2、U3的输入端，光耦合器U2、U3的输出端分别串联电阻R1、R3后连接红发光二极管D1、绿发光二极管D2的负极，红发光二极管D1、绿发光二极管D2的正极分别接入24V电源VCC，光耦合器U2、U3分别连接单片机U1的PB2、PD3引脚，单片机U1的PD7引脚连接绿发光二极管D3的负极，绿发光二极管D3的正极串接电阻R5后接到正电源VCC，单片机U1的PD4引脚连接光耦合器U4的输入端，光耦合器U4的输入端还通过电阻R7连接正电源VCC，光耦合器U4的输出端接入红发光二极管D4的负极，红发光二极管D4的正极通过电阻R6连接正电源VCC2，光耦合器U4的输出端还连接测试完成端子waferend。