[实用新型]一种电池测试装置有效
| 申请号： | 201821441050.3 | 申请日： | 2018-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN209561339U | 公开（公告）日： | 2019-10-29 |
| 发明（设计）人： | 黄帅;安国俊 | 申请（专利权）人： | 北京铂阳顶荣光伏科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 王刚 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电池测试装置，该电池测试装置包括：工作台和检测组件，工作台用于放置电池片，检测组件具有检测电池片的第一位置以及远离电池片的第二位置，检测组件用于检测电池片的电流值。通过本申请提供的技术方案能够及时发现激光划刻的不合格产品。 | ||
| 搜索关键词： | 电池测试装置 检测组件 检测电池 电池片 工作台 本实用新型 不合格产品 第二位置 第一位置 划刻 激光 申请 发现 | ||
【主权项】：
1.一种电池测试装置，其特征在于，所述电池测试装置包括：工作台(10)和检测组件(20)，所述工作台(10)用于放置电池片，所述检测组件(20)具有检测所述电池片的第一位置以及远离所述电池片的第二位置，所述检测组件(20)用于检测所述电池片的电流值；所述检测组件(20)包括底座(21)，所述底座(21)上设置有正极探针(22)和负极探针(23)，所述正极探针(22)和所述负极探针(23)用于与电池片电连接；所述检测组件(20)还包括架体(25)和驱动件(24)，所述驱动件(24)设置在所述架体(25)上，所述架体(25)位于所述工作台(10)的一侧；所述工作台(10)可相对所述检测组件(20)转动。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
