[实用新型]一种激光器调试用光斑测量及衰减装置有效

专利信息
申请号: 201821229366.6 申请日: 2018-08-01
公开(公告)号: CN208401245U 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 石朝辉;王培峰;王儒琦 申请(专利权)人: 苏州帕沃激光科技有限公司
主分类号: H01S3/00 分类号: H01S3/00
代理公司: 天津盈佳知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12224 代理人: 孙宝芸
地址: 215024 江苏省苏州市苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开一种激光器调试用光斑测量及衰减装置,包括沿着入射光束的光轴依次设的半波片和第一偏振片,第一偏振片的反射光束的光轴上设有第二偏振片,入射光束、第一偏振片的反射光束及第二偏振片的反射光束构成“Z”字形结构,第一偏振片的透射光束的光轴上设有第三偏振片,第三偏振片与第二偏振片构成倒“V”字形结构;衰减组件包括设在第二偏振片的反射光束的光轴上的第一收光垃圾桶;测量组件包括CCD及第二收光垃圾桶,CCD设在第二偏振片的反射光束的光轴上、且替代第一收光垃圾桶,第二收光垃圾桶设在出射光束的光轴上,其可便捷测量激光光斑的光斑直径和能量分布,能将入射激光衰减之后进行出射,以便后续光学系统对准和调试。
搜索关键词: 偏振片 光轴 反射光束 垃圾桶 收光 调试 光斑测量 入射光束 衰减装置 字形结构 激光器 测量激光光斑 本实用新型 光斑 测量组件 出射光束 光学系统 能量分布 入射激光 衰减组件 透射光束 半波片 出射 衰减 对准 替代
【主权项】:
1.一种激光器调试用光斑测量及衰减装置,所述激光器调试用光斑测量装置包括光路组件、测量组件和衰减组件;其特征在于,所述光路组件包括沿着入射光束(1)的光轴依次设置的半波片(2)和第一偏振片(3),第一偏振片(3)设置为由左至右向右倾斜,第一偏振片(3)的反射光束的光轴上设置有第二偏振片(4),第二偏振片(4)设置为由左至右向右倾斜,第二偏振片(4)位于第一偏振片(3)的上方,入射光束(1)、第一偏振片(3)的反射光束及第二偏振片(4)的反射光束构成“Z”字形结构,入射光束(1)及第二偏振片(4)的反射光束平行;第一偏振片(3)的透射光束的光轴上设置有第三偏振片(5),第三偏振片(5)由左至右向上倾斜,第三偏振片(5)及其向上的延长线与第二偏振片(4)及其向上的延长线构成倒“V”字形结构;第三偏振片(5)的透射光为与入射光束(1)及第二偏振片(4)的反射光束平行的出射光束(6);所述衰减组件包括设置在第二偏振片(4)的反射光束的光轴上的第一收光垃圾桶(7);所述测量组件包括CCD(8)及第二收光垃圾桶(9),CCD(8)设置在第二偏振片(4)的反射光束的光轴上、且替代第一收光垃圾桶(7),第二收光垃圾桶(9)设置在出射光束(6)的光轴上。
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