[实用新型]一种用于辐射检测以及发射成像设备的检测器有效
| 申请号: | 201821099524.0 | 申请日: | 2018-07-11 |
| 公开(公告)号: | CN208399701U | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
| 发明(设计)人: | 许剑锋;彭辉;谢思维;张熙;杨静梧;彭旗宇 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
| 主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
| 代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 张彩锦;曹葆青 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | 本实用新型属于发射成像系统技术领域,并具体公开了一种用于辐射检测以及发射成像设备的检测器。所述检测器包括晶体层,所述晶体层包括多层依次连接的片层晶体结构,且至少一层所述片层晶体结构的外侧耦合有光传感器层,所述光传感器层包括多个呈阵列布置的光传感器。本实用新型的用于辐射检测以及发射成像设备的检测器,通过设置多层连续片层晶体结构,精确捕捉不同位置的高能光子并将其转换成多个小能量光子,同时在至少一层所述片层晶体结构外侧耦合多个呈阵列排布的光传感器,且各传感器耦合形成与片层晶体结构截面相同的形状以接收所述小能量光子,大大提高了检测的精度和灵敏度。 | ||
| 搜索关键词: | 晶体结构 检测器 光传感器 片层 成像设备 辐射检测 耦合 发射 本实用新型 晶体层 小能量 光子 多层 成像系统 高能光子 依次连接 阵列布置 阵列排布 连续片 灵敏度 传感器 捕捉 检测 转换 | ||
【主权项】:
1.一种用于辐射检测以及发射成像设备的检测器,其特征在于,包括晶体层,所述晶体层包括多层依次连接的片层晶体结构,用于捕捉γ光子并将其转换成多个小能量光子;并且至少一层所述片层晶体结构的外侧耦合有光传感器层,所述光传感器层包括多个呈阵列布置的光传感器,多个所述光传感器耦合形成与所述片层晶体结构截面相同的形状,用于接收所述小能量光子。
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