[实用新型]一种强电离辐射环境下的温度测量系统有效
| 申请号： | 201820693659.3 | 申请日： | 2018-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN208206333U | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 杨俊亮;张小威;赵越;朱晔;李瑭 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人： | 司立彬 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种强电离辐射环境下的温度测量系统。本系统包括光源、波长选择器、探测器和机械控制测量装置；其中，该波长选择器仅允许经待测晶体表面产生的中心波长为λ的衍射光束输出；所述光源，用于产生入射到待测晶体表面的入射光束；所述机械控制测量装置分别与该波长选择器、待测晶体连接，用于调整该波长选择器的位置，使其接收入射光束经该待测晶体表面产生的中心波长为λ的衍射光束；以及改变该待测晶体与入射光束之间的入射角度；所述探测器，用于测量该波长选择器输入的光束强度。本实用新型既解决了强电离辐射环境下温度测量问题，同时也精确测得了强电离辐射环境下晶体表面的温度值。 | ||
| 搜索关键词： | 波长选择器 强电离辐射环境 晶体表面 温度测量系统 本实用新型 测量装置 机械控制 入射光束 衍射光束 中心波长 探测器 光源 温度测量 入射角 入射 测量 输出 收入 | ||
【主权项】：
1.一种强电离辐射环境下的温度测量系统，其特征在于，包括光源、波长选择器、探测器和机械控制测量装置；其中，该波长选择器仅允许经待测晶体表面产生的中心波长为λ的衍射光束输出；所述光源，用于产生入射到待测晶体表面的入射光束；所述机械控制测量装置分别与该波长选择器、待测晶体连接，用于调整该波长选择器的位置，使其接收入射光束经该待测晶体表面产生的中心波长为λ的衍射光束；以及改变该待测晶体与入射光束之间的入射角度；所述探测器，用于测量该波长选择器输入的光束强度。
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