[实用新型]一种抗辐照VDMOS管单粒子性能测试装置有效
| 申请号： | 201820437607.X | 申请日： | 2018-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN208547690U | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 宋吉昌;尹春阳;刘广海 | 申请（专利权）人： | 深圳吉华微特电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京智晨知识产权代理有限公司 11584 | 代理人： | 张婧 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例涉及电气元件测试设备技术领域，公开了一种航天用抗辐照VDMOS管单粒子性能测试装置，包括：测试平台、固定在所述测试平台上以用于固定待测器件的测试插座，以及用于产生粒子束的粒子冲击发生器，还包括用于加热待测器件的加热器、以及与所述加热器连接的温度控制器，所述加热器固定在所述测试平台上并正对所述粒子冲击发生器设置，所述温度控制器控制所述加热器加热以控制所述待测器件保持预设温度。本实用新型提供的MOS管测试装置，并完成在高温状态下的MOS管单粒子实验，所获得的数据使得MOS管测试结果更加全面、准确模拟MOS管在工作中，产生温升情况下的抗单粒子冲击能力。 | ||
| 搜索关键词： | 加热器 测试平台 待测器件 单粒子 性能测试装置 本实用新型 温度控制器 辐照 粒子冲击 发生器 加热 粒子束 电气元件测试 设备技术领域 测试插座 测试装置 高温状态 抗单粒子 温升 预设 正对 航天 | ||
【主权项】：
1.一种抗辐照VDMOS管单粒子性能测试装置，包括：测试平台、固定在所述测试平台上以用于固定待测器件的测试插座，以及用于产生粒子束的粒子冲击发生器，其特征在于，还包括用于加热待测器件的加热器、以及与所述加热器连接的温度控制器，所述加热器固定在所述测试平台上并正对所述粒子冲击发生器设置，所述温度控制器控制所述加热器加热以控制所述待测器件保持预设温度。
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