[实用新型]一种EVA膜测厚仪有效
| 申请号： | 201820345356.2 | 申请日： | 2018-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN207963784U | 公开（公告）日： | 2018-10-12 |
| 发明（设计）人： | 杜波;杨文华;熊政政;宛明成 | 申请（专利权）人： | 南京金永发塑胶加工制品有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 211215 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种EVA膜测厚仪，应用在薄膜测厚仪设备领域，其技术方案要点是：包括设置在滑块上的激光位移传感器，激光位移传感器上设有凸块，滑块上开设有供凸块插入的凹槽，滑块上设有用于将凸块固定在凹槽内的固定件，其优点是：激光位移传感器可单独拆卸，便于检测维修。 | ||
| 搜索关键词： | 激光位移传感器 测厚仪 滑块 凸块 技术方案要点 本实用新型 单独拆卸 设备领域 凸块固定 固定件 薄膜 维修 检测 应用 | ||
【主权项】：
1.一种EVA膜测厚仪，包括设置在滑块（1）上的激光位移传感器（11），其特征在于：所述激光位移传感器（11）上设有凸块（12），所述滑块（1）上开设有供凸块（12）插入的凹槽（13），所述滑块（1）上设有用于将凸块（12）固定在凹槽（13）内的固定件（2）。
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