[实用新型]一种芯片及待测标志物的分子数量的检测系统有效
| 申请号： | 201820211866.0 | 申请日： | 2018-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN207882279U | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 庄泉洁;刘洪英 | 申请（专利权）人： | 上海澜澈生物科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 200240 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种芯片及待测标志物的分子数量的检测系统，包括：芯片、磁珠、反应池；所述芯片包括芯片本体；所述芯片本体的一面包含至少四万个飞升孔，每个所述飞升孔为从所述芯片的第一表面向第二表面凹陷得到的盲孔；所述第一表面与所述第二表面相对；所述飞升孔为圆柱体，底部直径的范围为2um‑10um，高的范围为2um‑10um。当处于复合物合成阶段时，磁珠在反应池中进行反应；当处于检测阶段时，磁珠在芯片的飞升孔内进行反应。本实用新型可以实现每毫升飞克量级的检测，相对传统的ELISA技术，检测灵敏度提高100倍以上。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 磁珠 本实用新型 第二表面 第一表面 检测系统 芯片本体 标志物 反应池 检测灵敏度 合成阶段 传统的 复合物 凹陷 检测 盲孔 | ||
【主权项】：
1.一种芯片，其特征在于，包括：芯片本体；所述芯片本体的一面包含至少四万个飞升孔，每个所述飞升孔为从所述芯片的第一表面向第二表面凹陷得到的盲孔；所述第一表面与所述第二表面相对；所述飞升孔为圆柱体，底部直径的范围为2um‑10um，高的范围为2um‑10um。
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