[实用新型]一种芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 201820211187.3 申请日: 2018-02-07
公开(公告)号: CN207937558U 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 王永安 申请(专利权)人: 上海季丰电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/067
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 朱九皋
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种芯片测试装置,包括桌面、置物架、合格品放置盒和芯片限位块,所述桌面的顶部表面安装有置物架,所述置物架的一侧安装有待检测芯片放置区,所述置物架背离待检测芯片放置区的一侧安装有合格品放置盒,所述合格品放置盒的下方安装有不良品放置盒,所述置物架的顶部表面开设有电阻测量表放置槽,所述电阻测量表放置槽内放置有电阻测量表,所述电阻测量表放置槽的一侧开设有测量笔放置槽,所述测量笔放置槽内部安装有测量笔卡块,所述酒精瓶放置槽下方开设有棉签放置槽,所述置物架的下方安装有芯片限位块,所述桌面的底部表面安装有支撑柱,所述支撑柱的底端安装有防滑块。本实用新型具备可检测各种型号的芯片的优点。
搜索关键词: 放置槽 置物架 电阻测量表 放置盒 合格品 测量笔 芯片测试装置 本实用新型 顶部表面 检测芯片 芯片限位 放置区 支撑柱 底部表面 内部安装 不良品 防滑块 酒精瓶 可检测 底端 卡块 棉签 桌面 背离 芯片
【主权项】:
1.一种芯片测试装置,包括桌面(1)、置物架(6)、合格品放置盒(12)和芯片限位块(16),其特征在于:所述桌面(1)的顶部表面安装有置物架(6),所述置物架(6)的一侧安装有待检测芯片放置区(2),所述置物架(6)背离待检测芯片放置区(2)的一侧安装有合格品放置盒(12),所述合格品放置盒(12)的下方安装有不良品放置盒(14),所述合格品放置盒(12)和不良品放置盒(14)通过隔板(13)分隔,所述置物架(6)的顶部表面开设有电阻测量表放置槽(3),所述电阻测量表放置槽(3)内放置有电阻测量表(4),所述电阻测量表(4)的表面开设有读数窗口(5),所述读数窗口(5)的下方转动安装有旋钮(19),所述旋钮(19)背离读数窗口(5)的一侧开设有信号线插孔(18),所述电阻测量表放置槽(3)的一侧开设有测量笔放置槽(7),所述测量笔放置槽(7)内部安装有测量笔卡块(9),所述测量笔卡块(9)内活动安装有测量笔(8),所述测量笔(8)底端安装有信号线(17),所述测量笔(8)通过信号线(17)与信号线插孔(18)电性连接,所述测量笔放置槽(7)背离电阻测量表放置槽(3)的一侧开设有酒精瓶放置槽(11),所述酒精瓶放置槽(11)下方开设有棉签放置槽(10),所述置物架(6)的下方安装有芯片限位块(16),所述芯片限位块(16)内开设有芯片限位槽(15),所述桌面(1)的底部表面安装有支撑柱(21),所述支撑柱(21)的底端安装有防滑块(20)。
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