[实用新型]一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统有效
| 申请号： | 201820122059.1 | 申请日： | 2018-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN207779356U | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 张涛川;段春梅;杨伟;李大成;徐华冠;彭国亮 | 申请（专利权）人： | 佛山职业技术学院 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30;G01B11/26 |
| 代理公司： | 佛山东平知识产权事务所(普通合伙) 44307 | 代理人： | 詹仲国;龙孟华 |
| 地址： | 528100 广东省佛山市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统，包括：上位机、数据采集卡、激光位移传感器和风扇，所述数据采集卡采集激光位移传感器反馈的信号并送到上位机中；所述激光位移传感器的数量为2+N个，2个激光位移传感器用来测量瓷砖侧面的平面度和直线度，另外N个激光位移传感器用来采集瓷砖正面的平面度、直线度、表面缺陷信息，N≥2；所述风扇与激光位移传感器一一对应，用来吹走相应激光位移传感器测量位置的杂物。实际工作时，开启风扇，激光位移传感器与待检测大幅面瓷砖之间进行相对运动，这样，一边测量一边清除待测位置的灰尘等杂物，能适应大多数国内陶瓷生产环境，且通过相对运动就能实现整个瓷砖平整度数据的采集，测量速度快。 | ||
| 搜索关键词： | 激光位移传感器 瓷砖 大幅面 风扇 采集分析系统 数据采集卡 检测数据 测量 平面度 上位机 直线度 采集 杂物 表面缺陷信息 本实用新型 测量位置 瓷砖正面 待测位置 陶瓷生产 平整度 侧面 反馈 检测 | ||
【主权项】：
1.一种大幅面瓷砖检测数据采集分析系统，其特征在于，包括：上位机、数据采集卡、激光位移传感器和风扇，所述数据采集卡采集激光位移传感器反馈的信号并送到上位机中；所述激光位移传感器的数量为2+N个，2个激光位移传感器用来测量瓷砖侧面的平面度和直线度，另外N个激光位移传感器用来采集瓷砖正面的平面度、直线度、表面缺陷信息，N≥2；所述风扇与激光位移传感器一一对应，用来吹走相应激光位移传感器测量位置的杂物。
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