[发明专利]含立方烷的丙烯酸酯系成膜树脂和ArF光刻胶及其制备方法和光刻方法有效

专利信息
申请号: 201811620801.2 申请日: 2018-12-28
公开(公告)号: CN109679020B 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 肖楠;宋里千;王静 申请(专利权)人: 厦门恒坤新材料科技股份有限公司
主分类号: C08F220/20 分类号: C08F220/20;C08F220/18;G03F7/16
代理公司: 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 代理人: 赖秀华
地址: 361000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明属于半导体及集成电路领域,具体公开了一种含立方烷的丙烯酸酯系成膜树脂和ArF光刻胶及其制备方法和光刻方法。所述ArF光刻胶含有成膜树脂以及光致产酸剂,所述成膜树脂由质量分数为20‑60%的具有式(1)所示结构的单元单体Ⅰ和质量分数为40‑80%的具有式(2)所示结构的单元单体Ⅱ共聚得到,R1和R1各自独立地为氢原子或甲基,R2为酸敏基团。本发明提供的光刻胶具有较好的耐刻蚀性,在光刻过程中无需采用硬掩模层,采用新的光刻工艺来替代硬掩模工艺,不仅能够省去硬掩模层,而且还能够达到与原工艺相当甚至更好的耐刻蚀性能。此外,本发明提供的光刻工艺只需要使用后续光刻的旋转匀胶机,不需要CVD机台,而达到降低材料成本和生产时间的目的。
搜索关键词: 立方 丙烯酸酯 系成膜 树脂 arf 光刻 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种含立方烷的丙烯酸酯系成膜树脂,其特征在于,所述含立方烷的丙烯酸酯系成膜树脂由质量分数为20‑60%的单元单体Ⅰ和质量分数为40‑80%单元单体Ⅱ共聚得到,所述单元单体Ⅰ具有式(1)所示的结构,所述单元单体Ⅱ具有式(2)所示的结构:其中,R1和R1各自独立地为氢原子或甲基,R2为酸敏基团且其结构选自下列结构式系列(3)中的任意一种:其中,X为甲基或乙基,表示与主体结构中氧的连接键。
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