[发明专利]一种光热电三场耦合器件测试装置在审
| 申请号： | 201811619471.5 | 申请日： | 2018-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109541429A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 施淞瀚;朱文博;陈建文;王修才;许仁俊;吴徐平;叶大贵;林浩勃;陆江南;黄穗龙;朱珍 | 申请（专利权）人： | 佛山科学技术学院 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 谢泳祥 |
| 地址： | 528000 广东省佛山市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光热电三场耦合器件测试装置，包括盒体以及顶盖，所述顶盖设有透光孔，所述盒体的内部设有铸钢块、调温机构、探针以及插接座；所述顶盖的上部设有调光机构；所述测试装置还包括PID控制器、上位机以及电测试仪，所述调温机构以及调光机构分别与PID控制器相连接，所述插接座通过与电测试仪相连接，所述电测试仪以及PID控制器分别与上位机通信连接。本发明通过PID控制器、调光机构和调温机构，控制待测光电材料或器件的光照强度以及所处的环境温度，在对待测光电材料或器件进行光电特性测量过程中保证待测光电材料或器件的温度保持稳定，提高其光电特性测量的精准度，同时还能对待测光电材料或器件进行温度特性的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 光电材料 电测试仪 调光机构 调温机构 顶盖 光电特性测量 器件测试装置 插接座 场耦合 光热电 盒体 上位机通信 测试装置 温度保持 温度特性 精准度 上位机 透光孔 探针 铸钢 光照 测试 保证 | ||
【主权项】：
1.一种光热电三场耦合器件测试装置，其特征在于：包括盒体(100)以及顶盖(200)，所述顶盖(200)设有透光孔(210)，所述盒体(100)的内部设有铸钢块(300)、用于调节铸钢块(300)温度的调温机构、探针(410)以及插接座(420)，所述探针(410)的一端与插接座(420)电性连接，所述插接座(420)通过一导电构件延伸至盒体(100)外部；所述顶盖(200)的上部设有光强可调的调光机构，所述调光机构输出的光通过透光孔(210)进入到盒体(100)中并照射在铸钢块(300)上表面；所述测试装置还包括PID控制器、上位机以及电测试仪，所述调温机构以及调光机构分别与PID控制器相连接，所述插接座(420)通过一导电构件与电测试仪相连接，所述电测试仪以及PID控制器分别与上位机通信连接。
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