[发明专利]一种欧浮纳展宽器凹、凸面反射镜共轴的调试方法有效

专利信息
申请号: 201811591954.9 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN109633856B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 孙立;郭仪;周凯南;王晓东;曾小明;左言磊;黄征;谢娜;母杰;黄小军;王逍;蒋东镔;胡必龙;吴朝晖 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G02B7/182 分类号: G02B7/182;G02B27/62;H01S3/00
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 张明利
地址: 621900 四川省绵*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种欧浮纳展宽器凹、凸面反射镜共轴的调试方法,属于激光技术领域,该方法利用投线仪发出两条同轴的投射线,其中第一条投射线投至衍射光栅上且与入射激光在衍射光栅上的入射点重合,第二条投射线投至凹面反射镜上,调整凹面反射镜和凸面反射镜的位置使第二条投射线与凹面反射镜的中心重合,凸面反射镜的反射光与第二条投射线重合,最后监测欧浮纳展宽器输出远场光斑,检查并调整凹面反射镜的位置,直至远场光斑为圆斑且为最小光斑,使用上述方法可实现欧浮纳展宽器的各元件工作姿态的快速调整,不但可在展宽器狭小空间内调装,而且精确可靠。
搜索关键词: 一种 欧浮纳 展宽 凸面 反射 镜共轴 调试 方法
【主权项】:
1.一种欧浮纳展宽器凹、凸面反射镜共轴的调试方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:将投线仪(1)放置于凸面反射镜(2)与凹面反射镜(3)之间,所述投线仪(1)发出两条同轴的投射线,其中第一条投射线投至衍射光栅(4)上且与入射激光(5)在衍射光栅(4)上的入射点重合,第二条投射线投至凹面反射镜(3)上;S2:检查并调整凹面反射镜(3)的位置,使第二条投射线与凹面反射镜(3)的中心重合;S3:检查并调整凸面反射镜(2)的位置,使凸面反射镜(2)的反射光与第二条投射线重合;S4:监测欧浮纳展宽器输出远场光斑,检查并调整凹面反射镜(3)的位置,直至远场光斑为圆斑且为最小光斑。
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