[发明专利]基于平面度约束的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法有效
| 申请号： | 201811574048.8 | 申请日： | 2018-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN109458955B | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 张春伟;赵宏;乔嘉成;张振洋 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G06T17/00 |
| 代理公司： | 61215 西安智大知识产权代理事务所 | 代理人： | 贺建斌 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 基于平面度约束的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法，先按照测量需求，搭建离轴圆条纹投影三维测量系统；然后采用离轴圆条纹投影三维测量系统对一个标准平面进行测量，采样得到所需圆条纹图，并处理得到圆条纹图相位信息；再构建离轴圆条纹投影三维测量系统的虚拟高度求解模型；然后根据虚拟高度求解模型，建立对标准平面进行测量时平面度与零相位点取值的关联关系；最后综合圆条纹图相位信息、虚拟高度求解模型以及平面度与零相位点位置关联关系，建立零相位点搜索方案，实现对零相位点的求解；本发明能够实现对离轴圆条纹投影轮廓术零相位点的高精度求解，有助于促进圆条纹投影轮廓术测量性能的提高。 | ||
| 搜索关键词： | 条纹投影 零相位 离轴 平面度 求解 三维测量系统 求解模型 条纹图 测量 标准平面 关联关系 相位信息 虚拟 轮廓术 测量性能 测量需求 点位置 采样 构建 搜索 | ||
【主权项】：
1.基于平面度约束的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1：按照测量需求，搭建离轴圆条纹投影三维测量系统；/n步骤2：采用所搭建离轴圆条纹投影三维测量系统对一个标准平面进行测量，采样得到所需圆条纹图，并处理得到圆条纹图相位信息；/n步骤3：构建离轴圆条纹投影三维测量系统的虚拟高度求解模型；/n步骤4：根据虚拟高度求解模型，建立对标准平面进行测量时平面度与零相位点取值的关联关系；/n步骤5：综合圆条纹图相位信息、虚拟高度求解模型以及平面度与零相位点位置关联关系，建立零相位点搜索方案，实现对零相位点的求解；/n所述的步骤2中的基于离轴圆条纹投影三维测量系统的测量过程与共轴圆条纹投影轮廓术一致，设求得的圆条纹图相位分布为Φ(x
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