[发明专利]用于管路焊缝检漏的测试装置和测试方法有效

专利信息
申请号: 201811520154.8 申请日: 2018-12-12
公开(公告)号: CN109506845B 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 李宏宇;彭光东;韩洋;白沐炎;张世一;陈丽;邹晓君;张静;吴世任;代明桥 申请(专利权)人: 上海卫星装备研究所
主分类号: G01M3/22 分类号: G01M3/22
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种用于管路焊缝检漏的测试装置和测试方法,其中测试装置包括上罩盒(1)、矩形开尾密封圈(2)、卡环压紧结构(3)、下罩盒(4)以及变径错位开口环形密封圈(5);所述上罩盒(1)和下罩盒(4)这两者通过卡环压紧结构(3)连接或分离,两者的连接处设置有矩形开尾密封圈(2),当两者连接时,内部合围形成第一空间,所述第一空间通过检测口与外接第一管路相连;所述变径错位开口环形密封圈(5)设置在上罩盒(1)和/或下罩盒(4)的检测口处。本发明满足航天器推进系统管路焊缝漏率高精度、快速检测的要求,可提高检漏测试精度、缩短检测时间、降低漏率检测成本。
搜索关键词: 用于 管路 焊缝 检漏 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于管路焊缝检漏的测试装置,其特征在于,包括上罩盒(1)、矩形开尾密封圈(2)、卡环压紧结构(3)、下罩盒(4)以及变径错位开口环形密封圈(5);所述上罩盒(1)和下罩盒(4)这两者通过卡环压紧结构(3)连接或分离,两者的连接处设置有矩形开尾密封圈(2),当两者连接时,内部合围形成第一空间,所述第一空间通过检测口与外接第一管路相连;所述变径错位开口环形密封圈(5)设置在上罩盒(1)和/或下罩盒(4)的检测口处。
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