[发明专利]一种基于三维测量点云的零件表面缺陷识别与评估方法有效
| 申请号： | 201811518365.8 | 申请日： | 2018-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN109658398B | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 李文龙;胡著;王刚;田亚明 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/50;G06T7/13;G06T7/62 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 张彩锦;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于工业自动化测量领域，并具体公开了一种基于三维测量点云的零件表面缺陷识别与评估方法，其包括如下步骤：利用光栅式面阵扫描仪采集待测零件的表面点云数据；将采集的点云数据与零件设计模型点云数据进行匹配，获取点云数据的最近点集合数据；根据点云数据与最近点集合数据计算3D误差，并根据3D误差生成误差色谱图，依据误差色谱图预判出缺陷区域；对预判的缺陷区域进行平面度拟合，求解出缺陷区域的平面度；将预判的缺陷区域转化为二维灰度图像并进行边缘提取，然后进行区域填充以计算缺陷区域的面积s，以此完成零件表面缺陷的识别与评估。本发明解决了二维图像不能获取缺陷深度和误差色谱不能获取缺陷大小的不足，适用性广。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 三维 测量 零件 表面 缺陷 识别 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于三维测量点云的零件表面缺陷识别与评估方法，其特征在于，包括如下步骤：S1利用光栅式面阵扫描仪采集待测零件的表面点云数据；S2将采集的点云数据与零件设计模型点云数据进行匹配，获取点云数据的最近点集合数据；S3根据点云数据与最近点集合数据计算3D误差，并根据3D误差生成误差色谱图，然后依据误差色谱图预判出缺陷区域；S4对预判的缺陷区域进行平面度拟合，以求解出缺陷区域的深度d；S5将预判的缺陷区域转化为二维灰度图像并进行边缘提取，然后进行区域填充以计算缺陷区域的面积s，以此完成零件表面缺陷的识别与评估。
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