[发明专利]一种基于相关匹配的粒子聚焦两点像测速方法有效
申请号: | 201811510172.8 | 申请日: | 2018-12-11 |
公开(公告)号: | CN109633199B | 公开(公告)日: | 2020-09-22 |
发明(设计)人: | 吕且妮;尉小雪;付春帅 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01P5/22 | 分类号: | G01P5/22;G01N15/00;G01N15/10 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 李林娟 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于相关匹配的粒子聚焦两点像测速方法,该方法是记录时间序列的粒子IPI聚焦两点像,基于质心法和序列模板匹配法,实现亚像素的粒子定位,根据最大位移和速度方向准则搜索候选粒子,再基于互相关方法,实现高准确识别率的粒子识别匹配,其效果为基于IPI聚焦像的粒子速度测量提供一种方法,且具有很高的速度测量精度和很高匹配准确率,可用于喷雾、气泡、流场等粒子场速度分布测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 相关 匹配 粒子 聚焦 两点 测速 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于相关匹配的粒子聚焦两点像测速方法,其特征在于,所述测速方法包括以下步骤:1)定位两点像,利用干涉粒子成像系统,记录时间序列的粒子聚焦两点像P(x,y;ti),i=1,2,...,将聚焦两点像与粒子掩模像进行相关运算,其峰值位置即为两点像的位置坐标;2)亚像素定位,对两点像的位置坐标,结合质心法,得到亚像素的位置坐标(xi,yi;ti);3)粒子跟踪匹配,设第一帧图像和第二帧图像中的粒子两点像分别为
和
粒子像的位置坐标分别为(x1,y1;t1)和(x2,y2;t2),j为粒子序列数,将第一帧中任一
粒子作为目标粒子,对目标粒子进行跟踪匹配;4)粒子速度测量,对匹配粒子对,利用v=Δs/(MΔt)计算得到粒子速度,式中
为匹配粒子聚焦像的位移,M为IPI成像系统放大率,Δt为时间间隔。
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