[发明专利]一种用于叶片测量的一体化基座有效
申请号: | 201811495958.7 | 申请日: | 2018-12-07 |
公开(公告)号: | CN109443146B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 黄文俊;易鹏;周伟祥;周杨;姜嫄嫄;陈斌 | 申请(专利权)人: | 中国航发南方工业有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02 |
代理公司: | 北京尚德技研知识产权代理事务所(普通合伙) 11378 | 代理人: | 段泽贤;严勇刚 |
地址: | 412002*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 一种用于叶片测量的一体化基座,其为由低熔点合金浇铸形成的环绕所述榫齿的的矩形块,包括顺序连接的第一侧立面、第二侧立面、第三侧立面和第四侧立面,所述第一侧立面和/或所述第三侧立面与叶片理论参考坐标系的x轴平行,所述第二侧立面和/或所述第四侧立面与所述理论参考坐标系的y轴平行,所述矩形块还包括与所述理论参考坐标系的z轴垂直的第一水平面,本发明所提供的一种用于叶片测量的一体化基座,大大缩短了叶片的测量工期,且有效降低了生产成本和维护成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 叶片 测量 一体化 基座 | ||
【主权项】:
1.一种用于叶片测量的一体化基座,其特征在于,其用于对涡轮叶片的叶身的叶型尺寸、缘板的尺寸和榫齿顶部的锁片槽尺寸进行测量,其为由低熔点合金浇铸形成的环绕所述榫齿的的矩形块,所述锁片槽不被低熔点合金遮盖,所述涡轮叶片具有一个理论参考坐标系,所述理论参考坐标系的z轴与所述叶片的工艺凸台的轴线重合,所述理论参考坐标系的x‑y平面可由能够对所述榫齿的顶齿两侧的第一对凹陷部进行夹持的两根标准滚棒在夹持状态的两根轴线来建立,z轴与x‑y平面的交点为原点,x轴通过原点且与所述滚棒的轴线平行,y轴与x轴垂直。所述矩形块包括顺序连接的第一侧立面、第二侧立面、第三侧立面和第四侧立面,所述第一侧立面和/或所述第三侧立面与所述理论参考坐标系的x轴平行,所述第二侧立面和/或所述第四侧立面与所述理论参考坐标系的y轴平行,所述矩形块还包括与所述理论参考坐标系的z轴垂直的靠近所述锁片槽的第一水平面31。
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