[发明专利]一种轴系应变测量系统的测试标定台架有效
| 申请号： | 201811482779.X | 申请日： | 2018-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN109631823B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 杨俊 | 申请（专利权）人： | 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 |
| 主分类号： | G01B21/32 | 分类号： | G01B21/32;G01M5/00;G01M13/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 廖辉;仇蕾安 |
| 地址： | 430064 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种轴系应变测量系统的测试标定台架，该标定台架包括转轴、标高调整装置、砝码、平台和应变测量系统；转轴通过两个以上的标高调整装置水平支撑在平台上，应变测量系统安装在转轴上，标高调整装置在初始状态下的状态为标准的直线校中状态，通过解析解方法获得直线校中状态下的转轴状态参数，利用应变测量系统的测量结果与解析计算结果对比确定直线校中状态下系统测量的准确度；调整标高调整装置相对直线校中状态的高度变化量和砝码在转轴上的悬挂位置，计算获得任意校中状态的解析结果，应变测量系统的测量结果与解析计算结果进行对比，确定任意校中状态下系统测量的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应变 测量 系统 测试 标定 台架 | ||
【主权项】：
1.一种轴系应变测量系统的测试标定台架，其特征在于，该标定台架包括转轴、标高调整装置、砝码、平台和应变测量系统；所述标高调整装置的初始状态下等高且具有高度无极调节功能；所述转轴通过两个以上的标高调整装置水平支撑在平台上，所述应变测量系统安装在转轴上，标高调整装置在初始状态下的状态为标准的直线校中状态，通过解析解方法获得直线校中状态下的转轴状态参数，利用应变测量系统的测量结果与解析计算结果对比确定直线校中状态下系统测量的准确度；调整标高调整装置相对直线校中状态的高度变化量和砝码在转轴上的悬挂位置，计算获得任意校中状态的解析结果，应变测量系统的测量结果与解析计算结果进行对比，确定任意校中状态下系统测量的准确度。
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