[发明专利]一种BGA器件的焊球优化方法在审

专利信息
申请号: 201811481528.X 申请日: 2018-12-05
公开(公告)号: CN109684680A 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 徐艺轩;张楠;朱天成;李鑫 申请(专利权)人: 天津津航计算技术研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 祁恒
地址: 300308 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于器件封装技术领域,具体涉及一种BGA器件的焊球优化方法。该方法包括使用有限元分析方法模拟BGA器件焊球在温度循环试验中的热疲劳特性,计算焊球在温度循环中的塑性应变能量密度变化量;使用Darveaux能量疲劳寿命预测模型,根据焊盘直径和塑性应变能量密度变化量,预测BGA器件焊球总的疲劳寿命;预测不同钎料量及下焊盘直径下BGA的焊点形态;以及计算总疲劳寿命最大时的下焊盘直径及对应的钎料量。本发明分析下焊盘直径与BGA器件焊球总疲劳寿命之间的关系,能够找出BGA器件焊球总疲劳寿命最大时,对应的下焊盘直径的最大值及对应的钎料量,由此实现对焊球的优化。
搜索关键词: 焊球 疲劳寿命 下焊盘 钎料量 密度变化 塑性应变 温度循环 优化 疲劳寿命预测 焊点形态 器件封装 热疲劳 预测 对焊 焊盘 分析 试验
【主权项】:
1.一种BGA器件的焊球优化方法,其特征在于,所述焊球优化方法包括如下步骤:S1、使用有限元分析方法模拟BGA器件焊球在温度循环试验中的热疲劳特性,计算焊球在温度循环中的塑性应变能量密度变化量;S2、使用Darveaux能量疲劳寿命预测模型,根据焊盘直径和塑性应变能量密度变化量,预测BGA器件焊球总疲劳寿命;S3、预测不同钎料量及下焊盘直径时BGA的焊点形态;S4、计算总疲劳寿命最大时的下焊盘直径及对应的钎料量。
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