[发明专利]基于齿面接触线测量的齿轮线结构光快速扫描测量方法有效

专利信息
申请号: 201811462882.8 申请日: 2018-12-03
公开(公告)号: CN109443238B 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 石照耀;孙衍强;于渤;宋辉旭;陈洪芳;郭晓忠;王涛 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了基于齿面接触线测量的齿轮线结构光快速扫描测量方法,建立被测渐开线圆柱齿轮的三维数学模型,线结构光传感器测头的运动控制规划;将线结构光传感器测头代替传统式接触测头,扫描被测渐开线圆柱齿轮的接触线,与其他测量相比具有最好的测量精度,既保留了光学测量快速、测头与被测件无磨损、数据关联性强、便于安装和维护等优点,又能获得满足测量要求的精度。该测量方法充分利用了渐开线圆柱齿轮接触线为直线的特点和线结构光测量直线准确度高的优点,实现齿轮高精度的光学快速、全信息测量。
搜索关键词: 基于 接触 测量 齿轮 结构 快速 扫描 测量方法
【主权项】:
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