[发明专利]红外热像仪测温校正系统及方法在审
| 申请号： | 201811462700.7 | 申请日： | 2018-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN109655162A | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | 侯俊峰;李楚元 | 申请（专利权）人： | 一诺仪器（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 264207 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种红外热像仪测温校正系统及方法，该系统包括：设置在红外热像仪内的红外光学模块、平面黑体、高低温箱；待校正的红外热像仪的焦平面通过红外光学模块与平面黑体对准，平面黑体的辐射均匀照射在焦平面上；待校正的红外热像仪与平面黑体之间保持预设距离；待校正的红外热像仪放置于高低温箱中进行预热，待温度稳定后进行后续标定处理。光学系统补偿了被测物体距离，而校正方法补偿了被测物体表面发射率、周围环境温度等对测温的影响，使热像仪对被测物及环境的适应性更强；精确标定了热像仪在不同温度下对外部辐射的增益及偏置影响，避免了测温过程中仪器温度变化造成的测温误差；不需要快门等额外的装置进行校正，简化了仪器结构。 | ||
| 搜索关键词： | 红外热像仪 黑体 校正 测温 红外光学模块 高低温箱 校正系统 焦平面 热像仪 标定 被测物体表面 被测物体距离 测温误差 光学系统 红外热像 均匀照射 温度稳定 仪器结构 预设距离 被测物 发射率 辐射 预热 偏置 快门 对准 外部 | ||
【主权项】：
1.一种红外热像仪测温校正系统，其特征在于，包括：设置在红外热像仪内的红外光学模块、平面黑体、高低温箱；其中，待校正的红外热像仪的焦平面通过所述红外光学模块与所述平面黑体对准，所述平面黑体的辐射均匀照射在所述焦平面上；所述待校正的红外热像仪与所述平面黑体之间保持预设距离；所述待校正的红外热像仪通过所述高低温箱进行预热处理，以使得所述待校正的红外热像仪在测温校正时保持预设的稳定温度。
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