[发明专利]界面测试方法及系统、电子设备、存储介质在审

专利信息
申请号: 201811453852.0 申请日: 2018-11-30
公开(公告)号: CN111258875A 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 陈磊;王浩;刘军;周敬岩;贾瑞卿;牛锋华;李建爽 申请(专利权)人: 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F9/451
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 薛琦;李梦男
地址: 100086 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种界面测试方法及系统、电子设备、存储介质。所述界面测试方法包括:获取待测控件在界面中的位置信息,并将所述位置信息转换为第一屏幕坐标;生成测试脚本;所述测试脚本包括所述第一屏幕坐标;执行所述测试脚本,以根据所述第一屏幕坐标确定所述待测控件在所述界面中的位置,并触发所述待测控件,获得测试数据。本发明在界面测试过程中,测试脚本执行和图像识别流程分开进行,每次执行测试脚本,无需通过多次调用图形图像解析算法,才能从测试界面中识别出待测控件,从而提高了测试脚本的执行效率,进而提高了测试效率。
搜索关键词: 界面 测试 方法 系统 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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