[发明专利]基于等角度扫描的回转窑表面各测温点定位方法在审
申请号: | 201811445415.4 | 申请日: | 2018-11-29 |
公开(公告)号: | CN109539780A | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 代少升;谭伟;聂合文;舒倩;胡昂;陈雅枚;杨雨 | 申请(专利权)人: | 重庆邮电大学 |
主分类号: | F27B7/42 | 分类号: | F27B7/42;G01J5/00 |
代理公司: | 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 | 代理人: | 刘小红;陈栋梁 |
地址: | 400065 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明请求保护一种基于等角度扫描的回转窑表面各测温点定位方法,属于信号处理领域。本发明针对回转窑测温过程中等间隔定位方法存在的误差大,在结合回转窑生产现场的实际工况条件下,提出了一种基于等角度扫描技术的回转窑表面各测温点的定位方法,该方法首先根据回转窑尺寸计算出对应的测温开始角度、终止角度以及扫描长度等参数;然后利用等角度扫描计算出各个扫描点对应的位置间隔距离;最后利用各间隔距离求得对应测温点的位置,这样能够有效提高红外扫描测温系统的位置定位精度,减小定位误差。本方法的测温点定位精度高,与回转窑表面的实际位置吻合程度高,具有应用和推广价值。 | ||
搜索关键词: | 测温点 回转窑表面 角度扫描 回转窑 测温 实际工况条件 信号处理领域 定位精度高 测温系统 尺寸计算 定位误差 红外扫描 间隔定位 间隔距离 生产现场 实际位置 位置定位 位置间隔 扫描点 减小 吻合 扫描 应用 | ||
【主权项】:
1.一种基于等角度扫描的回转窑表面各测温点定位方法,其特征在于,包括以下步骤:首先根据红外扫描测温仪安装位置得到扫描仪到回转窑垂直距离H以及回转窑起始位置到垂点距离L1,然后根据几何关系计算出包括红外扫描测温仪测温开始角度、终止角度以及扫描长度在内的参数;然后利用各相邻扫描点之间扫描角度相同的等角度扫描算法,计算出各个扫描点对应的位置间隔距离;最后利用各间隔距离求得对应测温点的位置。
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