[发明专利]基于等角度扫描的回转窑表面各测温点定位方法在审

专利信息
申请号: 201811445415.4 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN109539780A 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 代少升;谭伟;聂合文;舒倩;胡昂;陈雅枚;杨雨 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: F27B7/42 分类号: F27B7/42;G01J5/00
代理公司: 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 代理人: 刘小红;陈栋梁
地址: 400065 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明请求保护一种基于等角度扫描的回转窑表面各测温点定位方法,属于信号处理领域。本发明针对回转窑测温过程中等间隔定位方法存在的误差大,在结合回转窑生产现场的实际工况条件下,提出了一种基于等角度扫描技术的回转窑表面各测温点的定位方法,该方法首先根据回转窑尺寸计算出对应的测温开始角度、终止角度以及扫描长度等参数;然后利用等角度扫描计算出各个扫描点对应的位置间隔距离;最后利用各间隔距离求得对应测温点的位置,这样能够有效提高红外扫描测温系统的位置定位精度,减小定位误差。本方法的测温点定位精度高,与回转窑表面的实际位置吻合程度高,具有应用和推广价值。
搜索关键词: 测温点 回转窑表面 角度扫描 回转窑 测温 实际工况条件 信号处理领域 定位精度高 测温系统 尺寸计算 定位误差 红外扫描 间隔定位 间隔距离 生产现场 实际位置 位置定位 位置间隔 扫描点 减小 吻合 扫描 应用
【主权项】:
1.一种基于等角度扫描的回转窑表面各测温点定位方法,其特征在于,包括以下步骤:首先根据红外扫描测温仪安装位置得到扫描仪到回转窑垂直距离H以及回转窑起始位置到垂点距离L1,然后根据几何关系计算出包括红外扫描测温仪测温开始角度、终止角度以及扫描长度在内的参数;然后利用各相邻扫描点之间扫描角度相同的等角度扫描算法,计算出各个扫描点对应的位置间隔距离;最后利用各间隔距离求得对应测温点的位置。
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