[发明专利]基于结构光测量物件尺寸的设备在审
| 申请号： | 201811435135.5 | 申请日： | 2018-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN109253696A | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 严小超 | 申请（专利权）人： | 信利光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/25 |
| 代理公司： | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人： | 王仲凯 |
| 地址： | 516600 广东省汕*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于结构光测量物件尺寸的设备，包括测试腔、结构光测量装置和数据处理装置；测试腔用于放置被测物件，其腔壁具有至少一透光区域；结构光测量装置用于通过测试腔的透光区域向测试腔内发出结构光，并接收结构光投射到被测物件后被被测物件表面反射回的光并记录为图像，根据记录下的图像计算出被测物件外形尺寸的变化量；数据处理装置与结构光测量装置相连，用于对结构光测量装置计算出的数据进行分析并输出。本发明基于结构光测量物件尺寸的设备，能够实时地测量物件外形尺寸的变化。 | ||
| 搜索关键词： | 结构光 被测物件 测量物件 测量装置 测试腔 数据处理装置 透光区域 表面反射 接收结构 图像计算 变化量 光投射 记录 腔壁 图像 输出 分析 | ||
【主权项】：
1.一种基于结构光测量物件尺寸的设备，其特征在于，包括测试腔、结构光测量装置和数据处理装置；所述测试腔用于放置被测物件，其腔壁具有至少一透光区域；所述结构光测量装置用于通过所述测试腔的透光区域向所述测试腔内发出结构光，并接收结构光投射到被测物件后被被测物件表面反射回的光并记录为图像，根据记录下的图像计算出被测物件外形尺寸的变化量；所述数据处理装置与所述结构光测量装置相连，用于对所述结构光测量装置计算出的数据进行分析并输出。
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