[发明专利]电子设备、三维存储器及其制作方法有效
申请号: | 201811407150.9 | 申请日: | 2018-11-23 |
公开(公告)号: | CN109742084B | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 吴林春;华文宇;蒲月强;刘藩东;夏志良 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11578 | 分类号: | H01L27/11578;H01L27/11582 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种电子设备、三维存储器及其制作方法,该制作方法包括如下步骤:在衬底上的堆叠层上制作功能孔,堆叠层包括依次层叠在衬底上的牺牲层和绝缘层,功能孔贯穿堆叠层并延伸进入衬底,在功能孔底部制作形成外延结构;在功能孔的侧壁和外延结构的表面上制作存储层和沟道层,对功能孔进行第一次刻蚀,移除外延结构表面中部的存储层和沟道层,并移除部分外延结构,使得外延结构顶部形成凹槽,使得外延结构包括底部部分和侧壁部分,相对的侧壁部分和底部部分共同围合形成凹槽,侧壁部分与牺牲层对应;对功能孔进行第二次刻蚀,移除沟道层和外延结构的侧壁部分。通过上述设置,从而能避免在功能孔的内壁上形成空洞,防止漏电。 | ||
搜索关键词: | 电子设备 三维 存储器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种三维存储器的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:在衬底上的堆叠层上制作功能孔,所述堆叠层包括依次层叠在所述衬底上的牺牲层和绝缘层,所述功能孔贯穿所述堆叠层并延伸进入所述衬底,在所述功能孔底部制作形成外延结构;在所述功能孔的侧壁和所述外延结构的表面上制作存储层和沟道层,对所述功能孔进行第一次刻蚀,移除所述外延结构表面中部的所述存储层和所述沟道层,并移除部分所述外延结构,使得所述外延结构顶部形成凹槽,使得所述外延结构包括底部部分和侧壁部分,相对的所述侧壁部分和底部部分共同围合形成所述凹槽,所述侧壁部分与所述牺牲层对应;对所述功能孔进行第二次刻蚀,移除所述沟道层和所述外延结构的所述侧壁部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的