[发明专利]电子设备、三维存储器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201811407150.9 申请日: 2018-11-23
公开(公告)号: CN109742084B 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 吴林春;华文宇;蒲月强;刘藩东;夏志良 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11578 分类号: H01L27/11578;H01L27/11582
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 430074 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种电子设备、三维存储器及其制作方法,该制作方法包括如下步骤:在衬底上的堆叠层上制作功能孔,堆叠层包括依次层叠在衬底上的牺牲层和绝缘层,功能孔贯穿堆叠层并延伸进入衬底,在功能孔底部制作形成外延结构;在功能孔的侧壁和外延结构的表面上制作存储层和沟道层,对功能孔进行第一次刻蚀,移除外延结构表面中部的存储层和沟道层,并移除部分外延结构,使得外延结构顶部形成凹槽,使得外延结构包括底部部分和侧壁部分,相对的侧壁部分和底部部分共同围合形成凹槽,侧壁部分与牺牲层对应;对功能孔进行第二次刻蚀,移除沟道层和外延结构的侧壁部分。通过上述设置,从而能避免在功能孔的内壁上形成空洞,防止漏电。
搜索关键词: 电子设备 三维 存储器 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种三维存储器的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:在衬底上的堆叠层上制作功能孔,所述堆叠层包括依次层叠在所述衬底上的牺牲层和绝缘层,所述功能孔贯穿所述堆叠层并延伸进入所述衬底,在所述功能孔底部制作形成外延结构;在所述功能孔的侧壁和所述外延结构的表面上制作存储层和沟道层,对所述功能孔进行第一次刻蚀,移除所述外延结构表面中部的所述存储层和所述沟道层,并移除部分所述外延结构,使得所述外延结构顶部形成凹槽,使得所述外延结构包括底部部分和侧壁部分,相对的所述侧壁部分和底部部分共同围合形成所述凹槽,所述侧壁部分与所述牺牲层对应;对所述功能孔进行第二次刻蚀,移除所述沟道层和所述外延结构的所述侧壁部分。
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