[发明专利]基于图像控制点配准的刚性表面接触过程分析方法与系统

摘要

本发明提供了一种基于图像控制点配准的刚性表面接触过程分析方法及系统，首先通过三维高分辨率表面形貌测量技术测量零件表面得到三维高密度点云数据，然后利用MATLAB将其转化为灰度图像。通过提取图像上的缸孔、螺纹孔等特征获得特征点坐标，利用装配关系获得特征点坐标对应关系，求得仿射变换矩阵。最后利用仿射矩阵将两幅图变换到同一坐标系下并求出相同坐标位置的法向距离，获得初始面差图像。通过逐步减小二者法向距离可以分析两表面接触过程接触点的变化情况。本发明的接触分析方法，能够对零件面接触全局进行分析，计算效率高，避免了有限元方法的计算时间长、分析面积小的缺点。