[发明专利]SERS基底结构、制备方法及检测方法有效

专利信息
申请号: 201811383964.3 申请日: 2018-11-20
公开(公告)号: CN109557072B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 王松帆;顾辰杰;王春燕;王梦琦;吴冠毅;吕炜烽;周灿梁 申请(专利权)人: 宁波大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 佟婷婷
地址: 315211 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种SERS基底结构、制备方法及检测方法,SERS基底结构包括:基板;光敏结构层,位于基板上;以及纳米颗粒层,位于光敏结构层上,纳米颗粒层包括若干个纳米颗粒,所述纳米颗粒在检测光波的照射下进行待检测分子的光谱检测。通过上述方案,本发明通过SERS基底结构的设计,通过光敏结构层实现了SERS基底的结构可变,从而实现了SERS能力的可变,本发明的设计可以在较大的初始纳米颗粒间距的条件下提高SERS能力,可以同时提高了待检测分子的进入能力和SERS基底的SERS能力,还可以实现SERS基底的重复利用。
搜索关键词: sers 基底 结构 制备 方法 检测
【主权项】:
1.一种SERS基底结构,其特征在于,包括:基板;光敏结构层,位于所述基板上;以及纳米颗粒层,位于所述光敏结构层上,所述纳米颗粒层包括若干个纳米颗粒,以基于所述纳米颗粒进行待检测分子的光谱检测。
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