[发明专利]一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备在审
| 申请号： | 201811381463.1 | 申请日： | 2018-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN109710482A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 周健;沈博 | 申请（专利权）人： | 广东优世联合控股集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/30 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 杨乐 |
| 地址： | 510623 广东省广州市天河区珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元件性能检测方法、装置、可读介质及电子设备，方法包括：确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。通过本发明的技术方案，可确定电子电子元件是否发生性能衰减。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 工作频率 目标电子元件 温度差 可读介质 温度曲线 性能检测 预设 衰减 实时检测 运行时 查询 | ||
【主权项】：
1.一种电子元件性能检测方法，其特征在于，包括：确定正常运行的电子设备中目标电子元件以各个工作频率运行时所分别对应的基准温度值，并根据各个所述基准温度值生成基准温度曲线；实时检测所述电子设备中所述目标电子元件的当前工作频率及当前温度值；查询所述基准温度曲线以确定所述当前工作频率所对应的基准温度值；计算所述当前温度值与所述当前工作频率所对应的基准温度值之间的温度差，并确定所述温度差是否大于第一预设温度；当所述温度差大于所述第一预设温度时，确定所述目标电子元件发生性能衰减。
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