[发明专利]一种用立方Ia3d结构介孔碳CMK-8直接电化学传感器检测痕量卡巴氧的方法有效
申请号: | 201811365014.8 | 申请日: | 2018-11-16 |
公开(公告)号: | CN109374706B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 刘艳清;汪洪武;姚夙;王淑兰;胡耿鑫 | 申请(专利权)人: | 肇庆学院 |
主分类号: | G01N27/30 | 分类号: | G01N27/30;G01N27/48 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 刘宇峰 |
地址: | 526061 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种用立方Ia3d结构介孔碳CMK‑8直接电化学传感器测定痕量卡巴氧的方法。本发明采用立方Ia3d结构介孔碳CMK‑8修饰玻碳电极,将所构建的传感器用于卡巴氧的直接测定。当卡巴氧在0.5nM~500.0nM浓度范围内时,电化学信号响应与卡巴氧的浓度呈良好的线性关系,方法检出限为74.4pM。本发明显著提高了卡巴氧检测的灵敏度,对于低浓度卡巴氧的检测易于自动化。 | ||
搜索关键词: | 一种 立方 ia3d 结构 介孔碳 cmk 直接 电化学传感器 检测 痕量 卡巴氧 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用立方Ia3d结构介孔碳CMK‑8直接电化学传感器检测痕量卡巴氧的方法,其特征在于,包括以下步骤:A.金电极的处理:将金电极(Φ=3mm)用二次去离子水冲洗,再用0.05μm的γ‑氧化铝抛光粉进行抛光打磨,再次水洗,晾干备用;B.立方Ia3d结构介孔碳CMK‑8分散液的制备:准确称取一定量的立方Ia3d结构介孔碳CMK‑8粉末,用DMF进行分散,超声1h,得分散均匀的4mg/mL的介孔碳分散液;C.立方Ia3d结构介孔碳CMK‑8修饰电极:用微量进样器取适量立方Ia3d结构介孔碳CMK‑8分散液均匀滴涂于经处理过的金电极上,置于红外灯下晒干,晾至室温备用;D.电化学传感器的构建:将修饰电极置于一定浓度的Na3PO4缓冲溶液中经差分脉冲伏安法扫描到稳定。随后在1000rpm磁力搅拌下进行恒电位富集,电位区间为‑0.3V~0.7V,富集时间10‑35min;E.卡巴氧的检测:电化学测试采用三电极体系:工作电极为立方Ia3d结构介孔碳CMK‑8修饰电极,对电极为中空钛棒,参比电极为饱和甘汞电极;电化学测试在自制电解池中进行;自制电解池的容积为25mL,每次测试时装载电解液体积为20mL,采用电磁搅拌器进行搅拌;电解液为Na3PO4缓冲溶液,利用NaOH调节pH值,使用前通入高纯氮气5min以充分除尽其中的溶解氧。
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